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更多>>- 規(guī)格型號:91951828
- 頻率:3.072~70.000MHZ
- 尺寸:11.0*4.6*4.2mm
- 產(chǎn)品描述:使用金屬封裝的具有高穩(wěn)定性、高可靠性的晶體諧振器、使用金屬封裝,充分的密封可確保其高可靠性、采用纏帶包裝,可對應(yīng)自動貼裝。
大真空49S封裝晶振,SMD-49貼片晶振,耐沖擊晶體


航欄(13).jpg)
大真空49S封裝晶振,SMD-49貼片晶振,耐沖擊晶體,高精度晶片的拋光技術(shù):是目前晶片研磨技術(shù)中表面處理技術(shù)的最高技術(shù),最終使晶片表面更光潔,平行度及平面度更好,降低諧振電阻,提高Q值.從而達(dá)到一般研磨所達(dá)不到的產(chǎn)品性能,使石英晶體元器件的等效電阻等更接近理論值,使石英晶體元器件可在更低功耗下工作.使用先進(jìn)的牛頓環(huán)及單色光的方法去檢測晶片表面的狀態(tài).

規(guī)格參數(shù) | SMD-49 |
頻率范圍 | 3.072~70.000MHZ |
負(fù)載電容 | 8pF,10pF,12pF,16pF |
工作溫度 |
±50×10-6/-10~+60℃ ±100×10-6/-30~+80℃ |
存儲溫度 | -40~+85℃ |
頂點(diǎn)溫度 | +25℃ ± 5℃ |
周波數(shù)偏差 | ±50×10-6, ±100×10-6 |
二次溫度系數(shù) | -0.04×10-6 /℃2 max |
老化率 | ±1.0×10-6 max /year |
起動時間 | 2.0ms max |



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如果由頻率計數(shù)器測量的頻率比目標(biāo)頻率高,要增加電容(CL,或Cd以及C 8)的值,以降低頻率到目標(biāo)頻率,反之亦然.請檢查波形幅度是否改善或沒有經(jīng)過我們調(diào)整頻率.如果它的改善,這表示該電路的原始設(shè)計不是調(diào)諧到最佳共振點(diǎn)為晶體的情況.該晶體應(yīng)正常后,諧振點(diǎn)的調(diào)整.如果波形幅度甚至沒有提高的頻率非常接近目標(biāo)頻率,我們可以通過以下三種方法改進(jìn):
方法1:降低產(chǎn)品線路外部電容(Cd和CG)的值,并通過晶體具有較低負(fù)載電容(CL).
方法2:采用小電阻(RR)的晶體.
方法3:使用鎘和CG的不等價的設(shè)計.
我們可以增加鎘(XOUT)的負(fù)載電容和降低CG(辛)的負(fù)載電容以提高從辛波形幅度將在其后端電路中使用的輸出.我們建議您使用上面的方法來節(jié)省成本,保證安全.請用頻率計數(shù)器來測量所述晶體,以確保經(jīng)調(diào)整頻率仍然滿足原說明書后的波形的振幅進(jìn)行了改進(jìn).如果頻率不符合規(guī)格,請采用晶體合適的CL值為根據(jù)您的目標(biāo)頻率.請采用晶體具有較低的CL如果頻率比目標(biāo)頻率,反之亦然高得多系統(tǒng)不能正常工作,由于輸出頻率會偏差很大.




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